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手机的特殊条件测试方法

点击量:920 发布时间:2014-02-17

样品标准数量:4 台。                                                    
测试周期:1 天。
1.1. 低温跌落试验(Low temperature Drop Test)
测试环境:-10°C;3台手机;开机状态。
试验方法:将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-10° C的低温试验箱内1小时后取出,进行1.3米的6个面跌落,2个循环,要求3分钟内完成跌落,方法同常温跌落。
检验标准:手机外观,结构,功能和电性能参数符合要求。
1.2. 扭曲测试(Twist Test)
测试环境:室温(20~25°C);2台;开机状态;2N·m力矩反复扭曲手机1000次。
检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。
1.3. 坐压测试(Squeeze Test)                                              
测试环境:室温(20~25°C);2台;开机状态;45Kg力反复挤压手机1000次
检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。
1.4. 钢球跌落测试(Ball Drop Test)
测试环境:室温(20~25° C);2台手机;100g钢球20cm高垂直打击镜片表面。
检验标准:手机镜盖无变形,无裂缝,无破损(允许有白点), LCD功能正常。

沪公网安备 31011602001179号

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